技术摘要：
本发明实施例提供的筛选闪存弱块的方法、装置和固态硬盘，涉及固态硬盘领域，所述方法包括当块中所有区域的RBE值均小于第一阈值时，判断块中是否至少有一个区域的RBE值大于等于第二阈值；若是，则记录块的区域信息，并根据区域信息判断块是否为弱块；区域信息表征块中  全部
背景技术：
由于生产制作工艺以及电气特性等的影响，NAND  flash会出现部分块(block)存 在缺陷，而大多厂家都会进行标记为原始出厂坏块。但是仍然存在一些block，其基本的读 写擦功能可用，但是在使用过程中极易老化并导致数据存取异常，而这些弱块通过常规的 测试并不能完全有效的筛选出来。 存储到flash的数据都会出现一定程度的bit翻转，其指标可通过原始比特误码 (Raw  Bit  Error，RBE)数量来衡量，即从flash中获取的未纠错的数据和原始数据相比较， 统计出来的发生bit翻转的个数。一般以1K为单位，如RBE＝30，即1K的数据有30个bit有跳 变。 现今，基本的弱块筛选方案基本上都是设定了一个比较大的RBE阈值来保证纠错 算法的可靠性，而一般正常的块在擦写后读出来的数据的RBE相对较低。但是存在着一些 NAND  flash由于受工艺限制或生产环境影响导致该批次质量较差，短期基本功能可用但是 不能长久，而该类弱块通过最大阈值法等筛选方案无法有效识别，总之，该类方案对弱块的 识别率较低。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种筛选闪存弱块的方法、装置和固态硬盘。 为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下： 第一方面，实施例提供一种筛选闪存弱块的方法，所述固态硬盘的闪存中每个块 包括多个存储空间大小相等的区域，包括： 当所述块中所有所述区域的RBE值均小于第一阈值时，判断所述块中是否至少有 一个所述区域的RBE值大于等于第二阈值；若是，则记录所述块的区域信息，并根据所述区 域信息判断所述块是否为弱块；所述区域信息表征所述块中所有区域的RBE值及位置；所述 第一阈值、所述第二阈值均根据闪存颗粒类型、温度、擦写次数以及数据模式获得。 在可选的实施方式中，根据所述区域信息判断所述块是否为弱块的步骤，包括： 获取所述块中目标行的数量和目标列的数量；所述目标行包括至少一个所述RBE 值大于等于第二阈值的所述区域；所述目标列包括至少一个所述RBE值大于等于第二阈值 的所述区域； 根据所述目标行的数量和所述目标列的数量判断所述块是否为弱块。 在可选的实施方式中，根据所述目标行的数量和所述目标列的数量判断所述块是 否为弱块的步骤，包括： 判断所述目标行的数量是否大于等于第三阈值，或所述目标列的数量是否大于等 4 CN 111552582 A 说　明　书 2/8 页 于第四阈值；若是，则将所述块标记为弱块；所述第三阈值为所述区域总行数的比例取值； 所述第四阈值为所述区域总列数的比例取值； 在可选的实施方式中，若否，则获取所述块中所有所述区域的RBE平均值，并判断 所述RBE平均值是否大于第二阈值；若是，则将所述块标记为弱块；若否，则将所述块标记为 正常块。 在可选的实施方式中，判断所述块中是否至少有一个所述区域的RBE值大于等于 第二阈值的步骤之前，包括： 判断所述块中是否至少有一个所述区域的RBE值大于等于第一阈值；若是，则将所 述块标记为弱块。 在可选的实施方式中，将所述块标记为弱块的步骤之后及将所述块标记为正常块 步骤之后，包括： 获取下一个所述块的所述区域信息，并根据所述区域信息对所述块进行弱块检 测，直到检测完所述闪存中的所有所述块。 第二方面，实施例提供一种筛选闪存弱块的装置，所述固态硬盘的闪存中每个块 包括多个存储空间大小相等的区域，包括： 判断模块，用于当所述块中所有所述区域的RBE值均小于第一阈值时，判断所述块 中是否至少有一个所述区域的RBE值大于等于第二阈值；若是，则记录所述块的区域信息， 并根据所述区域信息判断所述块是否为弱块；所述区域信息表征所述块中所有区域的RBE 值及位置；所述第一阈值、所述第二阈值均根据闪存颗粒类型、温度、擦写次数以及数据模 式获得。 在可选的实施方式中，还包括： 获取模块，用于获取所述块中目标行的数量和目标列的数量；所述目标行包括至 少一个所述RBE值大于等于第二阈值的所述区域；所述目标列包括至少一个所述RBE值大于 等于第二阈值的所述区域； 处理模块，用于根据所述目标行的数量和所述目标列的数量判断所述块是否为弱 块。 在可选的实施方式中，所述判断模块，还用于判断所述目标行的数量是否大于等 于第三阈值，或所述目标列的数量是否大于等于第四阈值；若是，则将所述块标记为弱块； 所述第三阈值为所述区域总行数的比例取值；所述第四阈值为所述区域总列数的比例取 值； 若否，则获取所述块中所有所述区域的RBE平均值，并判断所述RBE平均值是否大 于第二阈值；若是，则将所述块标记为弱块；若否，则将所述块标记为正常块。 在可选的实施方式中，所述判断模块，还用于判断所述块中是否至少有一个所述 区域的RBE值大于等于第一阈值；若是，则将所述块标记为弱块。 在可选的实施方式中，所述处理模块，还用于获取下一个所述块的所述区域信息， 并根据所述区域信息对所述块进行弱块检测，直到检测完所述闪存中的所有所述块。第三 方面，实施例提供一种固态硬盘，包括处理器和存储器，所述存储器存储有能够被所述处理 器执行的指令，所述处理器可执行所述指令以实现前述实施方式任一所述的筛选闪存弱块 的方法。 5 CN 111552582 A 说　明　书 3/8 页 本发明实施例提供的筛选闪存弱块的方法、装置和固态硬盘，固态硬盘的闪存中 每个块包括多个存储空间大小相等的区域，所述方法包括当块中所有区域的RBE值均小于 第一阈值时，判断块中是否至少有一个区域的RBE值大于等于第二阈值；若是，则记录块的 区域信息，并根据区域信息判断块是否为弱块；区域信息表征块中所有区域的RBE值及位 置；第二阈值为第一阈值的比例取值；第一阈值为闪存固有属性的最大弱块阈值。当块中所 有区域的RBE值均小于最大弱块阈值时，通过块中所有区域的RBE值及位置来判断块是否为 弱块，能尽可能完整、全面、准确的提前识别出存在风险的弱块，在业务上避免或限制使用 该类弱块，从而保证数据存取的正确性以及延长该固态硬盘的使用寿命，提升客户体验。 为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合 所附附图，作详细说明如下。 附图说明 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附 图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对 范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这 些附图获得其他相关的附图。 图1示出了本发明实施例提供的一种块的RBE值分布示意图。 图2示出了本发明实施例提供的一种SSD硬件模块示意图。 图3示出了本发明实施例提供的一种筛选闪存弱块的流程示意图。 图4示出了本发明实施例提供的另一种筛选闪存弱块的流程示意图。 图5示出了本发明实施例提供的一种筛选闪存弱块的装置的功能模块图。 图标：100-SSD；10-CPU；20-LDPC；30-NFC；40-NAND；50-OCM； 200-筛选闪存弱块的装置；210-判断模块；220-获取模块；230-处理模块。