技术摘要：
本发明提供了一种提高三维初至层析反演精度的方法及装置，该方法包括：根据目标区域以往资料及表层结构变化特征，选择生产炮点所在位置；基于所选生产炮点，沿测线方向布设附加观测系统，用于记录生产炮点激发时的地震数据；当生产炮点激发时，对所述附加观测系统记录  全部
背景技术：
随着勘探的深入，静校正和叠前深度偏移建模对近地表结构的描述精度要求越来 越高。在复杂区三维采集中，通过初至层析技术反演近地表模型已成为当前常用的技术手 段。但是，常规三维观测系统设计时主要考虑地下构造精确成像，不考虑近地表结构，线距 (一般大于100m)和道距(一般大于20m)较大，在沿测线方向和垂直测线方向上，初至相对稀 疏，初至采样间隔难以满足对表层的精细刻画，在复杂地表实际初至反演应用中存在浅层 速度精度不高的缺陷。 为了提高三维层析反演精度，通常的做法是采用表层调查资料进行约束反演。但 是复杂区很多地方受地形、成本、安全环保的制约，微测井难以有效实施，给表层资料获取 带来困难。
技术实现要素：
为解决现有技术中存在的上述问题，本发明实施例提供了一种提高三维初至层析 反演精度的方法及装置，通过在正常三维观测系统附加小型观测系统，增加初至采样密度， 提高层析反演精度。 一方面，本发明实施例提供了一种提高三维初至层析反演精度的方法，所述方法 包括： 步骤S1、根据目标区域以往资料及表层结构变化特征，选择生产炮点所在位置； 步骤S2、基于所选生产炮点，沿测线方向布设附加观测系统，用于记录生产炮点激 发时的地震数据；其中，所述附加观测系统的接收线排列方向与生产观测系统的接收线排 列方向一致； 步骤S3、当生产炮点激发时，对所述附加观测系统记录的地震数据及生产观测系 统记录的地震数据分别进行拾取，得到附加观测系统的初至以及生产观测系统的初至； 步骤S4、联合生产观测系统的初至与附加观测系统的初至进行层析反演建模。 在一实施例中，所述附加观测系统的道距为生产观测系统道距的1/6～1/4，所述 附加观测系统的接收线长度为生产炮点位置最大低降速带厚度的2～3倍，所述附加观测系 统的线距为生产观测系统线距的1/8～1/4。 在一实施例中，所述附加观测系统的接收线横向排列宽度与排列长度相同。 在一实施例中，所述位置是指需要对表层结构进行详细解剖的位置，包括岩性突 变位置、表层结构变化剧烈的位置。 另一方面，本发明实施例还提供了一种提高三维初至层析反演精度的装置，所述 装置包括： 4 CN 111596360 A 说　明　书 2/5 页 炮点位置选择单元，用于根据目标区域以往资料及表层结构变化特征，选择生产 炮点所在位置； 生产观测系统，布设在所述生产炮点的周围，用于记录所述生产炮点激发时的地 震数据； 附加观测系统，沿所选生产炮点的测线方向布设，用于记录所述生产炮点激发时 的地震数据；其中，所述附加观测系统的接收线排列方向与生产观测系统的接收线排列方 向一致； 初至拾取单元，当生产炮点激发时，用于对所述附加观测系统记录的地震数据及 生产观测系统记录的地震数据分别进行拾取，得到附加观测系统的初至以及生产观测系统 的初至； 反演建模单元，用于联合生产观测系统的初至与附加观测系统的初至联合进行层 析反演建模。 在一实施例中，所述附加观测系统的道距为生产观测系统道距的1/6～1/4，所述 附加观测系统的接收线长度为生产炮点位置最大低降速带厚度的2～3倍，所述附加观测系 统的线距为生产观测系统线距的1/8～1/4。 在一实施例中，所述附加观测系统的接收线横向排列宽度与排列长度相同。 在一实施例中，所述位置是指需要对表层结构进行详细解剖的位置，包括岩性突 变位置、表层结构变化剧烈的位置。 本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上 并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述的提高三 维初至层析反演精度的方法。 本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储 有执行所述的提高三维初至层析反演精度的方法的计算机程序。 本发明通过在正常生产的三维观测系统中额外附加接收道距较小、线距较小、排 列较短的小型三维观测系统，首次将附加观测系统与表层结构特点、剩余静校正精度结合 起来，通过减小纵横向初至采样间隔，增加近道初至密度，提高对表层的层析反演建模精 度。本发明适应地表复杂，常规表层调查难以实施的地区。通过在合适的部位附加小型的观 测系统，利用正常大炮生产施工，提高初至采样密度，简单有效，减少了复杂区对微测井的 依赖，降低了勘探成本，具有较好的应用前景。 附图说明 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以 根据这些附图获得其他的附图。 图1为本发明实施例提供的提高三维初至层析反演精度的方法的流程示意图； 图2为本发明提供的一附加观测系统与生产观测系统的布设实施例； 图3为本发明实施例提供的提高三维初至层析反演精度的装置的结构示意图； 图4为本发明另一实施例提供的提高三维初至层析反演精度的计算机设备结构示 5 CN 111596360 A 说　明　书 3/5 页 意图。