技术摘要：
本申请涉及一种散射校正算法优化方法、装置、计算机设备和可读存储介质，其中，散射校正算法优化方法包括：获取模体的实测符合计数数据以及算法估计数据；分别对实测符合计数数据和算法估计数据进行子集划分，得到多个实测符合计数数据子集和多个算法估计数据子集；根  全部
背景技术：
散射校正是在PET重建中不可缺少的、同时影响重建图像质量与定量的重要算法。 散射校正算法一般是对PET系统被测目标中发生的散射事件的估计算法。当前主流的散射 校正算法有单散射模拟算法(Single  Scatter  Simulation-SSS)、双散射模拟算法(Double  Scatter  Simulation-DSS)与蒙特卡罗模拟算法(Monte  Carlo  Simulation-MCS)。 解析的SSS算法、DSS算法的一大问题是为了降低解析计算的复杂度，对散射的物 理模型进行了极大简化，最主要的简化就是忽略的多重散射事件，而导致仿真结果偏离实 际结果；蒙卡模拟算法精确度虽然极高，但往往耗时巨大。在长轴PET系统中，上述问题会更 加严重，需要提出新的解决方法。
技术实现要素：
本申请提供一种散射校正算法优化方法、装置、计算机设备和存储介质，以至少解 决相关技术中在长轴PET系统应用时提高散射校正算法精确度的问题。 第一方面，本申请实施例提供了一种散射校正算法优化方法，所述方法包括： 获取模体的实测符合计数数据以及算法估计数据； 分别对所述实测符合计数数据和所述算法估计数据进行子集划分，得到多个实测 符合计数数据子集和多个算法估计数据子集； 根据所述实测符合计数数据子集以及对应的算法估计数据子集的对比结果，调整 算法估计数据子集的散射校正算法。 在其中一些实施例中，所述分别对所述实测符合计数数据和所述算法估计数据进 行子集划分包括： 根据接收到符合事件所对应光子对的两个探测器的环差或响应线的倾角，分别对 所述实测符合计数数据和所述算法估计数据进行子集划分。 在其中一些实施例中，所述根据所述实测符合计数数据子集以及对应的算法估计 数据子集的对比结果，调整算法估计数据子集的散射校正算法包括： 根据所述实测符合计数数据以及对应的算法估计数据子集的对比结果，调整所述 散射校正算法在相应数据子集的参数；所述参数至少包括探测器的能量分辨率和能量甄别 阈值的一种。 在其中一些实施例中，所述根据所述实测符合计数数据子集以及对应的算法估计 数据子集，调整算法估计数据子集的散射校正算法包括： 根据所述实测符合计数数据子集以及对应的算法估计数据子集的对比结果，在算 法估计数据子集的散射校正算法中设置预设参数；所述预设参数至少包括光子探测效率与 4 CN 111598967 A 说　明　书 2/10 页 光子入射晶体方向的关系参数、光子被探测器接收的深度参数、光子被晶体探测深度与光 子能量关系参数中的一种。 在其中一些实施例中，所述根据所述实测符合计数数据子集以及对应的算法估计 数据子集的对比结果，调整算法估计数据子集的散射校正算法包括： 利用平滑曲线分别拟合每一所述实测符合计数数据子集和对应的算法估计数据 子集的比值，得到校正曲线； 根据所述校正曲线，对所述算法估计数据子集的散射校正算法的结果进行调整。 在其中一些实施例中，所述获取模体的实测符合计数数据以及算法估计数据包 括： 对模体进行PET扫描，获取模体对应的实测符合计数数据； 根据模体信息对符合计数数据进行算法估计，得到算法估计数据； 所述模体信息包括模体内部的放射性活度分布以及衰减系数分布。 在其中一些实施例中，所述散射校正算法包括单散射模拟算法、双散射模拟算法 或蒙特卡罗模拟算法。 第二方面，本申请实施例提供了一种散射校正方法，所述方法包括： 获取PET扫描数据； 利用上述任一项所述的优化后的散射校正算法对所述PET扫描数据进行散射估 计，得到散射弦图，并根据所述散射弦图对所述PET扫描数据进行散射校正。 第三方面，本申请实施例提供了一种散射校正算法优化装置，包括： 获取模块，用于获取模体的实测符合计数数据以及算法估计数据； 划分模块，用于分别对所述实测符合计数数据和所述算法估计数据进行子集划 分，得到多个实测符合计数数据子集和多个算法估计数据子集； 调整模块，用于根据所述实测符合计数数据子集以及对应的算法估计数据子集的 对比结果，调整算法估计数据子集的散射校正算法。 第四方面，本申请实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在 所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时 实现如上述第一方面所述的散射校正算法优化方法。 第五方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程 序，该程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的散射校正算法优化方法。 相比于相关技术，本申请实施例提供的散射校正算法优化方法，包括：获取模体的 实测符合计数数据以及算法估计数据；分别对所述实测符合计数数据和所述算法估计数据 进行子集划分，得到多个实测符合计数数据子集和多个算法估计数据子集；根据所述实测 符合计数数据子集以及对应的算法估计数据子集的对比结果，调整算法估计数据子集的散 射校正算法，可以在长轴向PET系统应用中提高散射校正算法的精确度。 本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他 特征、目的和优点更加简明易懂。 附图说明 此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申 5 CN 111598967 A 说　明　书 3/10 页 请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中： 图1为一实施例提供的散射校正算法优化方法的流程图； 图2为一实施例提供的长轴向PET系统不同片层内多重散射事件与单词散射事件 比例的示意图； 图3为一实施例提供的获取模体的实测符合计数数据以及算法估计数据的流程 图； 图4为一个实施例中散射校正算法优化装置的结构框图； 图5为一个实施例中计算机设备的内部结构图。