技术摘要：
本发明提供一种剥料设备及纳米晶材料检测系统，其中，剥料设备包括：置料装置，所述置料装置包括置料轴，及连接所述置料轴的制动器；隔离膜回收装置，所述隔离膜回收装置位于所述置料装置的上方，包括隔离膜回收轴，及连接并带动所述隔离膜回收轴转动的第一电机；基膜  全部
背景技术：
通常，纳米晶材料的检测，首先需要对纳米晶材料的来料进行剥料，纳米晶材料的 来料由从上至下依次层叠的隔离膜、纳米晶材料、基膜所形成的层状材料卷绕形成的料卷， 需要人工撕除隔离膜和基膜，取出纳米晶材料，浪费人力、效率较低，容易污染纳米晶材料， 而且人为撕膜和取放纳米晶材料过程中，容易产生静电造成纳米晶材料的损坏。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明提供一种剥料设备和纳米晶材料检测系统，能够自动化进行纳 米晶来料的剥料，剥料速度快、稳定性高且能够避免污染物和静电对纳米晶材料的影响。 为解决上述技术问题，一方面，本发明提供一种剥料设备，用于对含有纳米晶材料 的来料进行剥料，所述来料由从上至下依次层叠的隔离膜、纳米晶材料、基膜所形成的层状 材料卷绕形成的料卷，包括： 置料装置，所述置料装置包括置料轴，及连接所述置料轴的制动器； 隔离膜回收装置，所述隔离膜回收装置位于所述置料装置的上方，包括隔离膜回 收轴，及连接并带动所述隔离膜回收轴转动的第一电机； 基膜回收装置，所述基膜回收装置与所述置料装置间隔设置，包括基膜回收轴，及 连接并带动所述基膜回收轴转动的第二电机； 传输装置，所述传输装置位于所述置料轴和所述基膜回收轴的上方，用于承载所 述基膜、纳米晶材料并将所述纳米晶材料从所述基膜上剥离，所述传输装置包括传输平台， 所述传输平台上形成有贯穿所述传输平台的上下表面的缝隙，以使得附有纳米晶材料的基 膜穿过所述缝隙时，将所述纳米晶材料从所述基膜上剥离。 进一步地，所述制动器为磁粉制动器。 进一步地，所述置料轴、隔离膜回收轴、基膜回收轴均为气涨轴。 进一步地，所述传输装置还包括： 第一滚轴，所述第一滚轴靠近所述传输平台的前端，以使得所述基膜经过所述第 一滚轴传输至传输平台。 进一步地，所述传输装置还包括：基膜夹紧机构，所述基膜夹紧机构位于所述传输 平台的下方，包括： 两个夹紧滚轴，两个所述夹紧滚轴前后设置； 调节器，所述调节器与所述夹紧滚轴相连，以通过所述调节器调节两个所述夹紧 滚轴的相对位置。 进一步地，所述传输装置还包括： 4 CN 111591822 A 说　明　书 2/5 页 两个第二滚轴，两个所述第二滚轴分别设置在所述基膜夹紧机构的上方和下方， 以使得所述基膜依次经过上方的所述第二滚轴、所述基膜夹紧机构及下方的所述第二滚 轴。 进一步地，所述传输平台从前往后依次包括上表面齐平的第一传输平台、直角三 角形楔块和第二传输平台，所述直角三角形楔块的直角边与所述第一传输平台相连，且其 后端与所述第二传输平台之间留有所述缝隙。 进一步地，所述剥料设备还包括： 离子风扇，所述离子风扇位于所述传输平台的上方。 进一步地，所述剥料设备还包括： 感应器，所述感应器位于所述传输平台上方，用于检测所述感应器下方的传输平 台上是否载有所述纳米晶材料。 另一方面，本发明提供一种纳米晶材料检测系统，包括上述任一所述的剥料设备。 本发明的上述技术方案至少具有如下有益效果之一： 根据本发明的剥料设备，包括置料装置、隔离膜回收装置、基膜回收装置及传输装 置，套设在置料轴上的纳米晶材料的来料可以不断地通过隔离膜回收装置进行隔离膜的收 卷回收，附着纳米晶材料的基膜在传输平台上传输，在穿过传输平台的缝隙的时候进行基 膜和纳米晶材料的剥离，纳米晶材料往后传输，基膜往传输平台下方传输，并传输至基膜回 收装置，从而对基膜进行收卷回收，剥离设备能够方便、快速、自动化地进行纳米晶材料的 来料剥料，将纳米晶材料分离出来，且可以对隔离膜和基膜进行回收，从而便于隔离膜和基 膜的再利用，能够节约成本。 附图说明 图1为根据本发明一实施例的剥料设备的结构示意图； 图2为图1中的剥料设备的背面示意图； 图3为图1中的传输平台的结构示意图。 附图标记： 110、置料轴；120、制动器；210、隔离膜回收轴；220、第一电机；310、基膜回收轴； 320、第二电机；400、传输平台；410、第一传输平台；420、直角三角形楔块；430、第二传输平 台；440、缝隙；510、第一滚轴；520、第二滚轴；600、基膜夹紧机构；610、夹紧滚轴；620、调节 器；700、离子风扇；800、感应器；1000、剥料设备。