技术摘要：
一种基于视觉条纹技术的高反面外观检测方法，涉及AOI光学自动检测领域，该方法包括以下步骤：步骤一、空域滤波，对反射图像相位进行高通滤波，进行阈值分割，消除非缺陷区域噪声；步骤二、折叠相位提取，最小值法计算反射图像相位，设置防呆程序校正相位突变；步骤三、  全部
背景技术：
随着工业自动化的快速发展,AOI光学自动检测现已成为制造业确保产品质量的 重要检测工具和过程质量控制工具，它的灵活性，可扩展性可以大大提高生产效率和生产 的自动化程度。 但是针对类镜面高反射面的检测，一直是行业的痛点，高反射曲面因其具有的镜 面特性和曲面特性，极易引起表面眩光并反射周围物体的像，造成观测相机捕捉的图像亮 度局部饱和，表面质量信息隐没在周围复杂环境中。 因此传统的视觉检测方式无法针对高反光表面提出一种通用性的检测方案，造成 针对每一种产品需要特殊进行设计光学系统，同时检测精度也难以满足生产厂家的要求。 现有技术存在以下两点优点，1.反射条纹图像的解析并还原，摄像机拍摄到的为 条纹图像，需要通过算法分析将多个反射图像进行组合解析，最终还原产品表面的实际图 像；2.图像解析的过程中会出现图像噪声，图像缺失的问题，需要真实准确的还原产品表面 的信息，为了解决上述技术问题，特提出一种新的技术方案。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种基于视觉条纹技术的高反面外观检测方法，该方法通 过计算机视觉条纹测量技术的最大特点是条纹发生容易，条纹宽度、亮度等调节方便，适合 于测量的自动化，同时使用条纹光反射到镜面物体，相机接收反射光图像，进而提取反射条 纹的相位信息，当镜面物体有缺陷时，相位信息发生突变，从而识别到缺陷信息，该方法通 用性强，针对高反光曲面和平面表面可兼容，并可以高度还原缺陷特征，微小缺陷可以很好 的得到图像还原，保证缺陷的检测精度。 为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种基于视觉条纹技术的高反面外 观检测方法，该方法包括以下步骤： 步骤一、空域滤波，对反射图像相位进行高通滤波，进行阈值分割，消除非缺陷区 域噪声； 步骤二、折叠相位提取，最小值法计算反射图像相位，设置防呆程序校正相位突 变； 步骤三、折叠相位展开，格雷码相位周期级数编码，对格雷码图像进行解码，得到 周期级数，结合相移法求取的折叠相位和格雷码解码得到的周期级数求整幅图像的绝对相 位。 所述的空域滤波是利用高斯函数的二阶导数构造卷积核对反射图像相位进行高 通滤波，反射图像缺陷区域存在相位突变,其相位卷积结果较非缺陷区域得到显著增强,再 3 CN 111724362 A 说　明　书 2/3 页 通过阈值分割即可实现消除非缺陷区域反射图像的相位突变和噪声。 所述的折叠相位提取是根据8幅条纹图像进行折叠相位提取，利用最小二值法计 算图像反射条纹相位，得到8步相移序列图像对此条纹序列图像放大，可发现相位存在2Π 的周期性突变为了消除反射图像随机噪声造成相位产生2Π的周期跳变，设置防呆判断程 序，通过判断每一个像素点相位正负号与其周围N个像素点相位正负号是否一致，一致则说 明不存在相位跳变，不一致则对该像素点相位取反，局部校正之后的相位图。 所述的折叠相位展开中的格雷码编码法通过多幅格雷码图像进行编码,编码值与 折叠相位的周期级数k一一对应与普通二进制编码类似,n位格雷码最多可以编码2^n个码 值，以8个周期折叠相位为例,8个格雷码值对应8个周期级数，此情况下,LCD需要显示3幅格 雷码序列图像，相机采集的格雷码序列图像经过二值化处理后进行解码,得到周期级数k算 法流程，结合相移法求取的折叠相位和格雷码序列图像解码的周期级数可以求得整幅图像 连续的绝对相位。 与现有技术相比，本发明的有益效果是：使用条纹光图像解析技术，由相机捕获多 张反射条纹光图像，用高通滤波算法初步消除部分图像噪声，使用最小二值化计算图像相 位，并增加防呆程序防止相位周期突变，最后通过格雷码编码法对折叠相位进行编码和展 开，还原产品原始图像。 该算法针对大部分高反光表面通用，需求的光源条件简单，由于测量的是位移的 导数，对于表面缺陷引起的微小形状突变更为敏感，更加适用于金属烤漆等亮光构件的表 面质量检测。 附图说明 图1为本发明的光源投射图； 图2为本发明的8步相移序列图。 图3为本发明的2Π的周期性突变图。 图4为本发明的局部校正之后的相位图。