技术摘要：
本申请提供一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，获取待测绝缘材料的时域光谱曲线和待测特征峰值；调取所述被检测绝缘材料的正常时域光谱曲线图和正常特征峰值；通过待测特征峰值与正常特征峰值之差获得特征峰值偏离值；在所述特征峰值偏离大于正常特征峰值的百分之  全部
背景技术：
绝缘材料又称电介质，是指在电压作用下，不导电或导电极微的物质。绝缘材料的 主要作用是在电气设备中将不同电位的带电导体隔离开来，使电流能按一定的路径流通， 还可起机械支撑和固定，以及灭弧、散热、储能、防潮、防霉或改善电场的电位分布和保护导 体的作用。绝缘材料在电场作用下将发生极化、电导、介质发热、击穿等物理现象,在承受电 场作用的同时,还要经受机械、化学等诸多因素的影响,长期将会出现老化现象。因此,电气 产品的许多故障往往发生在绝缘部分。 目前，绝缘材料的老化评估方法有耐压法、热重分析法等，这些方法都有可能对绝 缘材料本身造成损伤。
技术实现要素：
本申请提供了一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，实现在无损检测的情况 下，快速实现绝缘材料的老化判定。 为了达到上述目的，本申请实施例采用以下技术方案： 提供一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，所述方法包括： 获取待测绝缘材料的时域光谱曲线，得到待测特征峰值； 调取所述被检测绝缘材料的正常时域光谱曲线图，得到正常特征峰值； 获取特征峰值偏离值，所述特征峰值偏离值由所述待测特征峰值与所述正常特征 峰值之差获得； 在所述特征峰值偏离大于正常特征峰值的百分之十时，获取多个角度成像的静态 图像，对所述静态图像处理得到灰度值分布； 在所述静态图像上随机选取多个微小区域，以及每个所述区域的灰度平均值； 计算多个灰度平均值的平均值和方差； 若所述方差大于等于预设值时，所述待测绝缘材料已发生区域老化； 若所述方差小于所述预设值时，所述待测绝缘材料整体老化。 可选的，所述方法还包括： 在所述特征峰值偏离小于等于正常值的百分之十时，判定所述被检测绝缘材料无 老化。 可选的，所述待测绝缘材料中含有金属材料时，测量时避开所述金属材料。 可选的，所述获取待测绝缘材料的时域光谱曲线通过太赫兹时域光谱仪测试得 到。 可选的，所述获取多个角度成像的静态图像通过太赫兹成像仪测试得到。 3 CN 111595810 A 说　明　书 2/5 页 可选的，在所述静态图像上随机选取多个微小区域，以及每个所述区域的灰度平 均值；计算多个灰度平均值的平均值和方差包括： 在所述静态图像上随机选取i个微小区域，每个区域的灰度平均值为N1、N2、……、 Ni，计算N1、N2、……、Ni的平均值和方差。 本申请提供的一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，获取待测绝缘材料的时 域光谱曲线，得到待测特征峰值；调取所述被检测绝缘材料的正常时域光谱曲线图，得到正 常特征峰值；获取特征峰值偏离值，所述特征峰值偏离值由所述待测特征峰值与所述正常 特征峰值之差获得；在所述特征峰值偏离大于正常特征峰值的百分之十时，获取多个角度 成像的静态图像，对所述静态图像处理得到灰度值分布；在所述静态图像上随机选取多个 微小区域，以及每个所述区域的灰度平均值；计算多个灰度平均值的平均值和方差；若所述 方差大于等于预设值时，所述待测绝缘材料已发生区域老化；若所述方差小于所述预设值 时，所述待测绝缘材料整体老化；通过绝缘材料的太赫兹图像和时域光谱，判定绝缘材料的 老化区域，是属于局部还是整体老化，无需破坏材料本体的一种无损检测方法。 附图说明 为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以 根据这些附图获得其他的附图。 图1为本申请一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法的流程图； 图2为本申请实施例待测绝缘材料的时域光谱曲线图； 图3为本申请实施例待测绝缘材料的正常时域光谱曲线图。