技术摘要：
本发明公开了集成电路的漏电测试方法，包括如下步骤：S1：选取多个检测构件，将多个检测构件呈矩阵状排列；S2：将多个检测构件的接触端和待测集成电路上的待测点接触；S3：将检测构件的另一端通过导线接地，在检测构件的检测端和接地端之间设置检测电阻，此时接触点、  全部
背景技术：
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶 体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质 基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构 上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大 步。 目前，集成电路的漏电检测方法大多只是对集成电路板上的漏电位置进行检测， 不能准确的检测漏电的电流大小，且现有的集成电路的漏电检测方法检测比较复杂，操作 较为麻烦。
技术实现要素：
本发明的目的在于：为了解决集成电路的漏电的准确位置和漏电电流大小的问 题，提供集成电路的漏电测试方法。 本发明采用的技术方案如下： 集成电路的漏电测试方法，包括如下步骤： S1：选取多个检测构件，将多个检测构件呈矩阵状排列； S2：将多个检测构件的接触端和待测集成电路上的待测点接触； S3：将检测构件的另一端通过导线接地，在检测构件的检测端和接地端之间设置 检测电阻，此时接触点、检测电阻和接地点之间形成回路，根据欧姆定律：I＝V/R，当有电流 流过检测电阻时，检测电阻的两端形成电压差，因为串联电路电流处处相等，所以检测电阻 上的电流，就是集成电路的的漏电流； S4：利用A/D转换模块将检测电阻的两端的压降转化呈电压数值，由单片机进行内 部运算，计算得出漏电的电流值。 其中，所述S中计算得出漏电电流值通过显示器进行显示。 其中，所述S中的检测构件的接触需要和集成电路的待测点充分接触。 其中，所述检测构件包括接触件、第一导线、检测电阻、第二导线、接地件和A/D转 换器；所述接触件和第一导线的一端连接，所述第一导线的另一端和检测电阻的一端连接， 所述检测电阻的另一端和第二导线的一端连接，所述第二导线的另一端和接地件连接。 其中，所述A/D转换机的接口分别通过导线连接在检测电阻的两端。 其中，所述检测构件还包括单片机，所述单片机和A/D转换机电连接。 其中，所述检测构件还包括显示器，所述显示器为液晶显示屏，所述显示器和单片 机电连接。 综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是： 3 CN 111596198 A 说　明　书 2/3 页 本发明通过在集成电路板的若干个矩阵状分布的检测构件，通过讲检测构件的接 触端和集成电路的检测点连接，检测构件的接地端接地，使得集成电路、检测构件和大地构 成回路，再通过检测检测构件上检测电阻两端的电压，通过  A/D转换机转换压缩数值，利用 单片机进行计算出电流数值，进而能够精准的检测道集成电路漏电位置和漏电的电流大 小。 附图说明 图1为本发明中检测电路的结构示意框图； 图2为本发明中检测构件的结构示意图； 图中：1、接触件1；2、第一导线2；3、检测构件3；4、显示屏；5、第二导线5；6、接地件 6；7、单片机7；8、A/D转换器8；9、检测电阻9。