技术摘要：
本发明公开了一种光照均匀性的检测方法、检测装置和可读存储介质，所述检测方法包括：对光照均匀分布的光源进行拍摄，获得校准图像；提取所述校准图像中全部像素点的灰度值，将所述校准图像中全部像素点的灰度值转化为灰度矩阵；将预存的标准矩阵和所述灰度矩阵进行对  全部
背景技术：
目前检测光源光照均匀性的方法是用相机拍摄光源发光面，再对拍摄得到的图像 分析灰度值，进而获取均匀性信息。但是这种方式，采用的相机镜头本身会对光源的光照均 匀性产生影响，尤其是在镜头的周边区域，畸变可能导致光线扭曲变形，由此形成的发光面 并不是光源本身的光照均匀性体现。如此严重影响对光源光照均匀性分析的准确度。 上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技 术。
技术实现要素：
基于此，针对目前经过相机镜头导致的发光面并不是光源本身的光照均匀性体 现，导致对光源光照均匀性分析的不准确度的问题，有必要提供一种光照均匀性的检测方 法、检测装置和可读存储介质，旨在减少相机镜头对光线的影响，提高对光源光照均匀性分 析的准确度。 为实现上述目的，本发明提出一种光照均匀性的检测方法，所述检测方法包括： 对光照均匀分布的光源进行拍摄，获得校准图像； 提取所述校准图像中全部像素点的灰度值，将所述校准图像中全部像素点的灰度 值转化为灰度矩阵； 将预存的标准矩阵和所述灰度矩阵进行对比获得校准矩阵； 基于所述校准矩阵处理拍摄得到的待测图像，获得待分析图像。 可选地，所述将预存的标准矩阵和所述灰度矩阵进行对比获得校准矩阵的步骤， 包括： 将预存的标准矩阵除以所述灰度矩阵，计算得出校准矩阵； 所述基于所述校准矩阵处理拍摄得到的待测图像，获得待分析图像的步骤，包括： 将拍摄得到的待测图像中的全部像素点的灰度值转化为待测矩阵； 将所述待测矩阵和所述标准矩阵相乘，获得待分析矩阵； 将所述待分析矩阵转化为待分析图像。 可选地，所述获得待分析图像的步骤之后，包括： 对所述待分析图像进行中值滤波。 可选地，所述对所述待分析图像进行中值滤波的步骤，包括： 选定待分析图像中的一个像素点，以所述一个像素点为中心按照预设步长选定邻 域窗口； 对所述邻域窗口内所有像素点灰度值进行大小排列，选取处于中间的灰度值作为 4 CN 111609998 A 说　明　书 2/8 页 所述一个像素点的灰度数值。 可选地，所述对所述待分析图像进行中值滤波的步骤之后，还包括： 对所述待分析图像进行归一化处理。 可选地，所述对所述待分析图像进行归一化处理的步骤，还包括： 选择所述待分析图像的矩阵数据中最大灰度值； 将所述待分析图像的矩阵数据分别除以所述最大灰度值。 可选地，所述将预存的标准矩阵和所述灰度矩阵进行对比获得校准矩阵的步骤之 前，包括： 建立与所述校准图像的像素数相同的矩阵； 设定标准灰度值，将与所述校准图像的像素数相同的矩阵中的所有数据设置为所 述标准灰度值，生成标准矩阵，并保存所述标准矩阵。 可选地，所述基于所述校准矩阵处理拍摄得到的待测图像，获得待分析图像的步 骤之后，还包括： 设定分析数值，根据所述分析数值处理所述待分析图像，获得灰度值大于或等于 所述分析数值的局部图像； 将所述局部图像的面积和光源光照的全部面积对比，获得亮度均匀性占比值。 此外，为了实现上述目的，本发明还提供一种光照均匀性的检测装置，所述检测装 置包括： 拍摄模块，用于对光照均匀分布的光源进行拍摄，获得校准图像； 转化模块，用于提取所述校准图像中全部像素点的灰度值，将所述校准图像中全 部像素点的灰度值转化为灰度矩阵； 对比模块，用于将预存的标准矩阵和所述灰度矩阵进行对比获得校准矩阵； 处理模块，用于基于所述校准矩阵处理拍摄得到的待测图像，获得待分析图像。 此外，为了实现上述目的，本发明还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上 存储有光照均匀性的检测程序，所述光照均匀性的检测程序被处理器执行时实现如上文所 述的光照均匀性的检测方法的步骤。 本发明提出的技术方案中，选定一个光照均匀分布的光源，通过相机镜头获取该 光源的图像，获得校准图像。由于相机镜头对光线的影响，该校准图像的均匀性也产生了变 化，提取到校准图像中全部像素点的灰度值，将这些校准图像中全部像素点的灰度值转化 为灰度矩阵。设定一个标准矩阵，将标准矩阵和灰度矩阵进行对比获得校准矩阵，校准矩阵 中已将包含了相机镜头对光线的影响因素。再次拍摄获得待测图像，待测图像中也受到相 机镜头的影响，将待测图像和校准矩阵结合进行处理，相机镜头对光线的影响相互抵消掉， 由此减少相机镜头对光线的影响，使待分析图像能够准确反映光源的光照均匀性，提高对 光源光照均匀性分析的准确度。 附图说明 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以 5 CN 111609998 A 说　明　书 3/8 页 根据这些附图示出的结构获得其他的附图。 图1为本发明光照均匀性的检测方法第一实施例的流程示意图； 图2为本发明校准图像的示意图； 图3为本发明待测图像的示意图； 图4为本发明待分析图像的示意图； 图5为本发明光照均匀性的检测方法第二实施例的流程示意图； 图6为本发明光照均匀性的检测方法第三实施例的流程示意图； 图7为本发明带有噪声的待分析图像的示意图； 图8为本发明光照均匀性的检测方法第四实施例的流程示意图； 图9为本发明带消除噪声的待分析图像的示意图； 图10为本发明光照均匀性的检测方法第五实施例的流程示意图； 图11为本发明归一化的待分析图像的示意图； 图12为本发明光照均匀性的检测方法第六实施例的流程示意图； 图13为本发明光照均匀性的检测方法第七实施例的流程示意图； 图14为本发明光照均匀性的检测方法第八实施例的流程示意图； 图15为本发明检测一个光源发光亮度在0.85以上的待分析图像的发光面示意图； 图16为图15中发光亮度在0.9以上的待分析图像的发光面示意图； 图17为本发明检测另一光源发光亮度在0.85以上的待分析图像的发光面示意图； 图18为图17中发光亮度在0.9以上的待分析图像的发光面示意图； 图19为本发明光照均匀性的检测装置的结构示意图。 附图标号说明： 标号 名称 标号 名称 10 拍摄模块 30 对比模块 20 转化模块 40 处理模块 本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。