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一种薄膜测厚仪


技术摘要:
本发明公开了薄膜测厚技术领域的一种薄膜测厚仪,包括安装底座和薄膜测厚机构,所述薄膜测厚机构设置在安装底座上;本发明通过在安装底座上设置薄膜测厚机构,可实现持续性的薄膜厚度测试,进行测厚前平整时,通过撑平辊受薄膜压力推动移动杆下移,使第二接电片和第一  全部
背景技术:
透明薄膜是一种塑料制成的膜状物体,其在农业大棚中具有很广泛的应用。 在薄膜生产制造中为保证薄膜的质量,就需要对薄膜的厚度进行测量,现在技术 中对薄膜的测量常常使用LS152塑料薄膜在线测厚仪对其厚度进行测量,LS152塑料薄膜在 线测厚仪包括光源探头、接收探头、控制器以及显示屏构成,光源探头发射光源穿过薄膜, 接收探头会接收透过薄膜后的光源,随后接收探头将信号传递给控制器,控制器对数据进 行分析和转化,然后显示屏便会显示薄膜的厚度数据,LS152塑料薄膜在线测厚仪在可实现 持续测量薄膜厚度的功能,但是薄膜在持续穿过接收探头与光源探头之间时没有设置让薄 膜时刻保证平整的机构,可能导致在测量薄膜前和测量薄膜过程中,薄膜会出现折叠导致 测量出现误差。 基于此,本发明设计了一种薄膜测厚仪,以解决上述问题。
技术实现要素:
本发明的目的在于提供一种薄膜测厚仪,以解决上述
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