技术摘要：
本应变片包括：基材，具有可挠性；以及电阻体，由Cr混合相膜形成，其中，所述电阻体包括形成在所述基材的一侧的第一电阻部、以及形成在所述基材的另一侧的第二电阻部，所述第一电阻部和所述第二电阻部被布置成使栅格方向在平面视图中交叉。
背景技术：
已知一种应变片，其粘贴在测定对象物上，以对测定对象物的应变进行检测。应变 片具有用于对应变进行检测的电阻体，作为电阻体的材料，例如使用包含Cr(铬)或Ni(镍) 的材料。另外，电阻体例如形成在由绝缘树脂构成的基材上(例如参见专利文献1)。 <现有技术文献> <专利文献> 专利文献1：(日本)特开2016-74934号公报
技术实现要素：
<本发明要解决的问题> 另一方面，存在一种方法，其将2个应变片的栅格方向错开期望的角度(例如90度 或45度)并将其粘贴到测定对象物上，以对主应变方向未知的应变进行测定。在该方法中， 由于将2个应变片贴合，因此贴合精度较差，难以以期望的角度进行贴合。因此，无法进行精 确的应变测定。 鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种应变片，其能够在不考虑贴合精度的 情况下对主应变方向未知的应变进行测定。 <用于解决问题的手段> 本应变片包括：基材，具有可挠性；以及电阻体，由Cr混合相膜形成，其中，所述电 阻体包括形成在所述基材的一侧的第一电阻部、以及形成在所述基材的另一侧的第二电阻 部，所述第一电阻部和所述第二电阻部被布置成使栅格方向在平面视图中交叉。 <发明的效果> 根据所公开的技术，能够提供一种应变片，其能够在不考虑贴合精度的情况下对 主应变方向未知的应变进行测定。 附图说明 图1是示出根据第1实施方式的应变片的平面图。 图2是示出根据第1实施方式的应变片中的电阻部31的图案的平面图。 图3是示出根据第1实施方式的应变片的剖面图(其1)。 图4是示出根据第1实施方式的应变片的剖面图(其2)。 图5A是示出根据第1实施方式的应变片的制造工序的图(其1)。 图5B是示出根据第1实施方式的应变片的制造工序的图(其2)。 图5C是示出根据第1实施方式的应变片的制造工序的图(其3)。 图5D是示出根据第1实施方式的应变片的制造工序的图(其4)。 3 CN 111587356 A 说　明　书 2/7 页 图6是示出根据第1实施方式的应变片的剖面图(其3)。 图7是示出根据第1实施方式的应变片的剖面图(其4)。