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一种图形处理芯片GPU老化试验装置


技术摘要:
本发明公开了一种图形处理芯片GPU老化试验装置,具体涉及计算机硬件检测技术领域,包括将GPU本体底部插口与PCIE插座插接,CIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接,通过带动固定板移动调整GPU本体的对应高度,能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度,通过对进尘管  全部
背景技术:
图形处理器,缩写:GPU,又称显示核心、视觉处理器、显示芯片,是一种专门在个人 电脑、工作站、游戏机和一些移动设备(如平板电脑、智能手机等)上做图像和图形相关运算 工作的微处理器,GPU使显卡减少了对CPU的依赖,并进行部分原本CPU的工作,尤其是在3D 图形处理时GPU所采用的核心技术有硬件T&L(几何转换和光照处理)、立方环境材质贴图和 顶点混合、纹理压缩和凹凸映射贴图、双重纹理四像素256位渲染引擎等,而硬件T&L技术可 以说是GPU的标志。 为了保证图像处理芯片工作状态的稳定性,在设计投产后需要对不同型号的GPU 进行老化测试以保证耐用性和寿命,现有的GPU老化试验多只能够通过加载电流进行长时 间工作测试,耗时较久的同时在模拟高温灰尘场景下会对其他计算机硬件造成不利的影 响,整体测试平台使用寿命较低,并且无法完全模拟使用环境,导致老化试验数据有误。
技术实现要素:
为了克服现有技术的上述缺陷,本发明的实施例提供一种图形处理芯片GPU老化 试验装置,本发明所要解决的技术问题是:GPU老化试验多只能够通过加载电流进行长时间 工作测试,耗时较久的同时在模拟高温灰尘场景下会对其他计算机硬件造成不利的影响, 整体测试平台使用寿命较低的问题。 为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种图形处理芯片GPU老化试验装 置,包括底座和密封箱,所述底座顶部与密封箱底部固定连接,所述底座顶部滑动连接有滑 动机构,所述滑动机构顶部固定连接有升降机构,所述升降机构一侧固定连接有测试机构, 所述密封箱两侧均设有散热机构,且密封箱内腔一侧两端均固定连接有安装座,且两侧安 装座内固定安装有电热丝网,且密封箱内腔两侧与散热机构对应位置开设有通风孔; 所述滑动机构包括滑座,所述滑座一侧固定连接有第二把手,所述底座顶部开设 有滑槽,所述滑座滑动连接在滑槽内,所述滑座两侧均开设有限位槽,所述滑槽内腔一端固 定连接有凸块,所述凸块与限位槽一侧相贴合,所述滑座顶部固定连接有连接板,所述升降 机构包括固定座,所述固定座底部与连接板顶部固定连接,所述固定座内腔滑动连接有滑 动块,所述滑动块顶部嵌设有螺纹帽,所述螺纹帽内螺纹连接有螺纹柱,所述螺纹柱两端均 固定连接有转轴,所述转轴外侧壁套设有轴承,且两个轴承分别嵌设于固定座内腔两侧,且 位于顶部的转轴顶端固定连接有第一把手; 所述测试机构包括固定板,所述固定板一侧与滑动块一侧固定连接,所述固定板 一侧固定连接有PCIE插座,所述PCIE插座插接有GPU本体,所述PCIE插座顶部连接有PCIE延 长线,所述密封箱内腔一侧开设有第一通孔和第二通孔,所述底座顶部放置有PC主机,所述 4 CN 111610430 A 说 明 书 2/5 页 PC主机一侧与密封箱一侧相贴合,所述PCIE延长线另一端穿过第一通孔与PC主机相连接; 所述散热机构包括两个限位板,且两侧限位板分别相对固定连接在密封箱外壁两 侧,且对应位置一侧的两个限位板之间卡接有风扇,所述限位板顶部嵌设有滑套,所述滑套 内滑动连接有滑杆,所述滑杆顶端固定连接有顶块,所述滑杆底端固定连接有挤压垫,所述 挤压垫与风扇相贴合,所述滑杆外侧壁套设有弹簧,所述弹簧两端分别与顶块和滑套对应 位置固定连接。 通过拉动第二把手带动滑座在滑槽内滑动并带动限位槽与凸块分离,滑座一侧拉 动连接板和固定座以及固定板向密封箱一侧开口处移动,将GPU本体底部插口与PCIE插座 插接,推动滑座复位后,PCIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接,在对有外接 供电的GPU本体安装时,通过将外接电源线与GPU本体连接后通过第二通孔与PC主机电源相 连接,通过拧动第二把手能够带动转轴和螺纹柱转动,螺纹柱转动带动螺纹连接的螺纹帽 和滑动块带动固定板上下移动,固定板移动调整GPU本体的对应高度,能够模拟GPU装配在 机箱内的对应高度,提高测试准确度,降低因安装位置导致的电流变化,滑座的拉动抽出有 效方便对GPU本体进行装配,同时方便对密封箱和底座进行清理,GPU本体的信号输出线能 够穿过排线孔与外部显示屏连接以保证数据输出,并且两侧风扇转动能够在同时对密封箱 内空气进行散发,能够模拟在机箱通风正常状态下对GPU本体进行老化测试,在需要进行恶 劣环境测试时,通过对进尘管内撒入粉尘,风扇转动保证灰尘分散堆积后,打开电热丝网工 作,风扇吹动鼓风将热量通入GPU本体,使得GPU本体能够在高温高尘环境下进行压力老化 测试,通过多种测试环境有效模拟老化试验,提高数据准确度,确保产品出厂可靠耐用性, 同时通过PCIE延长线与外部PC主机连接,有效避免密封箱内高温环境以及灰尘情况下对PC 主机硬件的损耗,并且只需要定期对PCIE插座以及PCIE延长线更换即可满足对GPU本体单 独的老化测试,有效延长本发明整体使用寿命。 在一个优选的实施方式中,所述GPU本体一侧连接有外接电源线,所述外接电源线 穿过第二通孔与PC主机相连接,满足不同功率的GPU本体测试需要,能够进行辅助供电。 在一个优选的实施方式中,所述密封箱和底座一侧贴合有盖板,且密封箱与盖板 对应位置开设有开口,所述盖板一侧设有合页,所述盖板通过合页与密封箱铰接,在高温灰 尘环境下避免热量和灰尘散发。 在一个优选的实施方式中,所述盖板一侧开设有观察窗,实时观察GPU本体状态。 在一个优选的实施方式中,所述密封箱内腔靠近GPU本体一侧开设有排线孔,所述 GPU本体一侧连接有信号输出线,所述信号输出线穿过排线孔与外部显示屏相连接,保证 GPU本体工作下的数据输出。 在一个优选的实施方式中,所述通风孔内固定连接有滤网,避免外部灰尘进入影 响到数据精确度。 在一个优选的实施方式中,所述密封箱顶部连通有进尘管,方便快速模拟灰尘堆 积分布。 在一个优选的实施方式中,所述限位板的横截面形状为L形,提高对风扇的限位效 果。 1、本发明通过设置测试机构和升降机构,将GPU本体底部插口与PCIE插座插接, CIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接,通过带动固定板移动调整GPU本体的 5 CN 111610430 A 说 明 书 3/5 页 对应高度,能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度,通过对进尘管内撒入粉尘,电热丝网工 作风扇吹动鼓风将热量通入GPU本体,使得GPU本体能够在高温高尘环境下进行压力老化测 试,提高数据准确度,确保产品出厂可靠耐用性,与现有技术相比有效避免密封箱内高温环 境以及灰尘情况下对PC主机硬件的损耗,有效延长本发明整体使用寿命; 2、本发明通过设置弹簧和风扇,风扇卡接在限位板内,弹簧利用自身拉力带动滑 杆和挤压垫对风扇进行挤压固定,当风扇需要清理维护时,通过拉动两侧顶块带动滑杆在 滑套内移动并带动挤压垫与风扇分离,风扇能够从限位板内抽出,有效方便工作人员对风 扇进行拆卸清理。 附图说明 图1为本发明的正视剖面结构示意图。 图2为本发明的图1中A部分放大示意图。 图3为本发明的图1中B部分放大示意图。 图4为本发明的图1中C部分放大示意图。 图5为本发明的正视结构示意图。 图6为本发明的测试机构立体结构示意。 图7为本发明的后视结构示意。 附图标记为:1底座、2密封箱、3进尘管、4安装座、5电热丝网、6滑动机构、601滑座、 602滑槽、603限位槽、604凸块、605连接板、606第二把手、7升降机构、701固定座、702轴承、 703转轴、704螺纹柱、705螺纹帽、706滑动块、707第一把手、8测试机构、801固定板、802  PCIE插座、803  GPU本体、804  PCIE延长线、805第一通孔、806第二通孔、807外接电源线、808  PC主机、809信号输出线、9散热机构、901限位板、902滑套、903弹簧、904滑杆、905顶块、906 挤压垫、907风扇、10通风孔、11滤网、12排线孔、13盖板、14观察窗、15合页。
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