技术摘要：
本发明公开了一种阵列基板、显示面板以及显示装置，阵列基板具有显示区和围绕显示区的非显示区，阵列基板包括：衬底、平坦化层、多条信号线以及测试结构。平坦化层位于衬底的第一侧；多条信号线位于衬底上，并且延伸于显示区；测试结构位于衬底上且位于非显示区，测试  全部
背景技术：
在显示面板的生产过程中，需要对显示面板的性能进行测试，例如通过显示面板 是否能够正常显示以检测显示面板中的布线结构是否存在短路或断路情况。为了便于测试 和筛选质量合格的显示面板，一般会在显示面板上设置测试结构，通过对测试结构输入测 试信号以对显示面板进行性能测试。 在对显示面板的测试过程中，通过外界的测试装置与测试结构压合使得测试装置 的测试信号传输至测试结构中，在压合过程中可能存在压合不良的情况，导致测试结构和 测试装置接触不良，降低测试的准确性，影响生产效率。
技术实现要素：
本发明提供一种阵列基板、显示面板以及显示装置，旨在改善现有技术中测试结 构与测试装置接触不良的情况，提高对显示面板测试的准确性，提高显示面板的生产效率。 一方面，本发明实施例提供一种阵列基板，具有显示区和围绕显示区的非显示区， 阵列基板包括：衬底、平坦化层、多条信号线以及测试结构。平坦化层位于衬底的第一侧；多 条信号线位于衬底上，并且延伸于显示区；测试结构位于衬底上且位于非显示区，测试结构 包括引线单元和接触单元，引线单元位于平坦化层与衬底之间，引线单元与至少部分条信 号线电连接；接触单元与引线单元电连接，接触单元位于平坦化层背离衬底的一侧且凸出 于平坦化层。 另一方面，本发明实施例还提供一种显示面板，包括如上述的阵列基板。 再一方面，本发明实施例还提供一种显示装置，包括如上述的阵列基板。 根据本发明实施例的阵列基板、显示面板以及显示装置，阵列基板具有显示区和 围绕显示区的非显示区，阵列基板包括衬底、平坦化层、多条信号线以及测试结构，多条信 号线延伸于显示区，使得多条信号线能够与显示面板上的像素连接，以驱动各像素显示。测 试结构位于非显示区，且测试结构与至少部分条信号线连接，便于通过测试结构将测试信 号传输至信号线中，以驱动各像素显示，以检测阵列基板上的布线结构以及信号线是否存 在短路或断路情况。 进一步地，测试结构包括引线单元和接触单元，引线单元与至少部分条信号线电 连接，接触单元与引线单元电连接，能够使得外界的测试装置，例如测试电路板能够通过接 触单元和引线单元将测试信号传输至对应的信号线中。通过设置接触单元位于平坦化层背 离衬底的一侧且凸出于平坦化层，防止测试结构低于平坦化层且与平坦化层之间的段差较 大时引起的测试电路板不能与测试结构稳定电连接的情况，提高测试结构与测试装置的连 接良率，使得测试时测试结构与测试装置形成良好的电连接，提高测试准确性。 4 CN 111596476 A 说　明　书 2/10 页 附图说明 通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、 目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并 未按照实际的比例绘制。 图1是本发明一个实施例提供的阵列基板的俯视结构示意图； 图2是本发明一个实施例的阵列基板的截面示意图； 图3是图1中示出的一种阵列基板沿B-B的结构示意图； 图4是图1中示出的另一种阵列基板沿B-B的结构示意图； 图5是图1中示出的一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图6是图1中示出的另一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图7是图1中示出的再一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图8是图1中示出的又一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图9是图1中示出的另一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图10是图1中示出的另一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图11是图1中示出的另一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图12是图1中示出的另一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图13是图1中示出的另一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图14是图1中示出的另一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图15是图1中示出的另一种阵列基板沿C-C方向的剖视图； 图16是本发明一个实施例提供的显示面板的结构示意图； 图17是本发明一个实施例提供的显示装置的结构示意图。