技术摘要：
本发明涉及一种相位波动测量方法，及系统所述测量方法包括：获取待测信号和参考信号；将所述待测信号转换至千赫兹，得到下转换信号；将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得到第一低频分量；将所述参考信号移相预先设定度数，并与所述下转换信号混频，得到第  全部
背景技术：
在铯原子喷泉钟系统，微波激励信号的频率被锁定在原子共振频率上。频  率控制 是由相位差测量得到的。在每个周期中，原子叠加和共振场之间的累积  相位差被评估。如 果现场驱动信号的相位受到干扰，就会发生相位差测量误差。  对于周期同步扰动，每个周 期的误差是相同的。这将影响频率控制，从而导致 喷泉频率的偏移。 为了减小微波泄漏频移，需研制微波干涉开关，而微波干涉开关引起的相  位波动 需搭建相位波动测量系统。
技术实现要素：
本发明的目的是提供一种相位波动测量方法及系统，以减小微波泄漏频  移。 为实现上述目的，本发明提供了如下方案： 一种相位波动测量方法，所述测量方法包括： 获取待测信号和参考信号； 将所述待测信号转换至千赫兹，得到下转换信号； 将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得到第一低频分量； 将所述参考信号移相预先设定度数，并与所述下转换信号混频，得到第二  低频分 量； 基于所述第二低频分量和所述第一低频分量得到相位差。 可选的，所述下转换信号具体采用以下公式： u1(t)＝v1sin[2πfdifft θ1(t)]，其中，u1(t)表示下转换信号，v1表示振幅，fdiff表  示频率，θ1(t)表示u1(t)的初相位。 可选的，所述参考信号具体采用以下公式： u2(t)＝v2sin[2πfsignalt θ2(t)]，其中，u2(t)表示参考信号，v2表示振幅，fsignal表  示频率，θ2(t)表示u2(t)的初相位。 可选的，将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得到第一低频  分量具 体采用以下公式： 其中，uM(t)表示第一低频分量，v1′表示uM(t)的振  幅，θ1(t)表示u1(t)的初相位、θ2(t)表示u2(t)的初相位，θ1(t)-θ2(t)表示相位差。 可选的，将所述参考信号移相预先设定度数，并与所述下转换信号混频，  得到第 二低频分量具体采用以下公式： 其中，uN(t)表示第二低频分量，v′表示uN(t)的振  幅， θ1(t)表示u1(t)的初相位、θ2(t)表示u2(t)的初相位，θ1(t)-θ2(t)表示相位差。 可选的，基于所述第二低频分量和所述第一低频分量得到相位差具体采用 以下 4 CN 111579883 A 说　明　书 2/4 页 公式： 其中，θ1(t)表示u1(t)的初相位、θ2(t)表示u2(t)的初  相位，θ1(t)-θ2(t)表示相位差，uN(t)表示第二低频分量，uM(t)表示第一低频分 量。 本发明另外提供一种相位波动测量系统，所述测量系统包括： 待测信号和参考信号获取模块，用于获取待测信号和参考信号； 转换模块，用于将所述待测信号转换至千赫兹，得到下转换信号； 混频滤波模块，用于将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得  到第一 低频分量； 混频模块，用于将所述参考信号移相预先设定度数，并与所述下转换信号  混频， 得到第二低频分量； 相位差确定模块，用于基于所述第二低频分量和所述第一低频分量得到相 位差。 8、根据权利要求7所述的相位波动测量系统，其特征在于，所述混频滤  波模块具 体采用以下公式： 其中，uM(t)表示第一低频分量，v1′表示uM(t)的振  幅，θ1(t)表示u1(t)的初相位、θ2(t)表示u2(t)的初相位，θ1(t)-θ2(t)表示相位差。 可选的，所述混频模块具体采用以下公式： 其中，  uN (t)表示第二低频分量，v′表示uN(t)的振幅，θ1(t)和θ2(t)表示初相位，θ1(t)-θ2(t)  表示相 位差。 可选的，所述相位差确定模块具体采用以下公式： 其中，θ1(t)表示u1(t)的初相位、θ2(t)表示u2(t)的初  相位，θ1(t)-θ2(t)表示相位差，uN(t)表示第二低频分量，uM(t)表示第一低频分 量。 根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果： 通过获取待测信号和参考信号；将所述待测信号转换至千赫兹，得到下转  换信 号；将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得到第一低频分量；  将所述参考信 号移相预先设定度数，并与所述下转换信号混频，得到第二低频  分量；基于所述第二低频 分量和所述第一低频分量得到相位差，得到微波干涉  开关引起的相位波动，进而能够减小 微波泄漏频移。 附图说明 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施  例中 所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是  本发明的一些实 施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性 的前提下，还可以根据这些 附图获得其他的附图。 图1为本发明实施例一种相位波动测量方法流程图； 图2为本发明实施例一种相位波动测量系统结构示意图； 图3为本发明实施例一种相位波动测量系统硬件示意图； 5 CN 111579883 A 说　明　书 3/4 页 图4为本发明实施例相位波动测量系统噪底； 图5为本发明实施例射频开关和商用微波开关的相位瞬态效应。