技术摘要：
本发明公开了一种多功能采样校准装置，包括通讯测试单元、逻辑信号测试单元、模拟信号测试单元、测试接口单元、显示单元、中心处理单元，所述逻辑信号测试单元还包括直流硬件过压信号测试单元、硬件过流信号测试单元、继电器控制测试单元、风扇控制测试单元、PWM信号测  全部
背景技术：
随着配网电能质量需求日益增涨，模块化的APF/SVG(静止无功发生器)因具有良 好的动态连续无级调节无功、三相不平衡补偿、谐波补偿功能，正在逐步被用电侧用户接受 并大规模投入使用，相比于SVC装置和同步调相机，此类装置有着无功响应速度快、占地小、 使用周期长、运行维护简单等诸多优点；由于现阶段模块化APF/SVG基于高速数字信号处理 芯片DSP和现场可编程阵列芯片FPGA控制，所有此类设备在生产和出厂调试时需要对其采 样数据和运行参数进行校准。 在大规模生产时，需培养专业测试人员，且人工校验方式操作繁琐、耗费资源严 重、错误率较高，为模块化APF/SVG自动化生产带来不便。 综上所述，需要一种多功能采样校准装置来解决现有技术中所存在的不足之处。
技术实现要素：
针对现有技术的不足，本发明提供了一种多功能采样校准装置，旨在解决上述人 工校验方式操作繁琐、耗费资源严重、错误率较高的问题。 为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种多功能采样校准装置，包括通讯 测试单元、逻辑信号测试单元、模拟信号测试单元、测试接口单元、显示单元、中心处理单 元，所述逻辑信号测试单元还包括直流硬件过压信号测试单元、硬件过流信号测试单元、继 电器控制测试单元、风扇控制测试单元、PWM信号测试单元、故障信号测试单元以及急停信 号测试单元，所述模拟信号测试单元还包括温度采样测试单元、负载电流采样测试单元、交 流电压采样测试单元、总输出电流采样测试单元、电感电流采样测试单元、直流电压采样测 试单元； 通讯测试单元，用于多功能采样校准装置与被测设备之间的通讯； 直流硬件过压信号测试单元和硬件过流信号测试单元，用于产生个数可设和时长 可设的脉冲信号； 继电器控制测试单元、故障信号测试单元和急停信号测试单元，用于检测被测设 备产生的跳变信号，分析信号上升时间和信号幅值并保存信号数据； 风扇控制单元和PWM信号测试单元，用于通过测试接口单元接收来接被测设备的 PWM信号，并测量占空比和电平幅值； 测试接口单元，用于多功能采样校准装置与被测设备的功能连接和信号传导； 显示单元，用于多功能采样校准装置数据对外显示、人机交互、参数核对、阈值报 警、错误报警； 中心处理单元，用于通讯测试单元、逻辑信号测试单元、模拟信号测试单元、显示 3 CN 111596586 A 说　明　书 2/4 页 单元以及测试接口单元的数据连接和信号的统一处理； 所述通讯测试单元与中心处理单元和测试接口单元相连接，所述逻辑信号测试单 元与中心处理单元和测试接口单元相连接，所述模拟信号测试单元与中心处理单元和测试 接口单元相连接，所述显示单元与中心处理单元相连接，中心处理单元与显示单元、通讯测 试单元、逻辑信号测试单元、模拟信号测试单元相连接。 作为本发明的优选，所述温度采样测试单元施加一个固定温度信号与测试接口单 元读取被测设备温度进行比较并将信号输入至中心处理单元。 作为本发明的优选，所述负载电流采样测试单元、总输出电流采样测试单元和电 感电流采样测试单元由采样校准装置施加一个幅值可设、频率可设的模拟量电流信号给被 测设备，并将信号数据上传至中心处理单元。 作为本发明的优选，所述交流电压采样测试单元和直流电压采样测试单元由采样 校准装置施加一个周期可设、幅值可设的模拟量电压信号给被测设备，并将信号数据上传 至中心处理单元。 本发明的有益效果： 1、本发明中，通过通讯模块实现闭环检测，同时将测试结果显示，方便了生产维修 工作的进行，功能实用性相对较强； 2、本发明中，通过逻辑信号测试单元对PWM信号的检测，可比对出硬件电路的电容 参数是否合适，硬件电流的芯片是否满足参数要求，保证了芯片与器件的一致性，提升了产 品性能，针对外部人员更换相同型号芯片，可通过该方式进行验证，减少了测试流程，极大 地简化了验证流程，提高了产品的迭代速度； 3、本发明中，通过模拟信号测试单元对模拟电路部分进行了精确的测试，由于采 用了闭环控制，且校准反应速率在毫秒级，不仅提高了校准精度，使得原来1小时的测试工 作量缩减为5分钟，极大地提高了生产效率，具有一定的使用价值和推广价值。 附图说明 图1为本发明的组成原理图。 图2为本发明的逻辑信号测试单元原理图。 图3为本发明的模拟信号测试单元原理图。 图4为本发明的逻辑信号测试单元处理逻辑示意图。 图5为本发明的模拟信号测试单元处理逻辑示意图。