技术摘要：
本申请公开了一种实现测控板卡DAC输出幅值补偿的方法和系统，方法包括：基于设置于测控板卡上的DAC芯片特性和测控板卡的输出端幅值要求，确定补偿电路模型；根据DAC芯片本身输出端幅值，通过所述补偿电路模型中的多级运放对设置于测控板卡上的DAC芯片的输出端幅值进行 全部
背景技术：
目前随着量子信息科学领域的不断发展，研究活动也随之迅速增加，量子科学有 可能在不远的未来取得巨大的技术进步，对以后计算与通信领域产生巨大影响，而在研究 量子位的行为中，因量子位的信息受到不同物理条件的影响，AWG(Arbitrary Waveform Generator，任意波形发生器)等各类精准的数字化仪器起着至关重要的作用。 PXIe的核心仍然是PCI总线，但是额外增加了时钟和同步触发总线，增加的时钟和 同步触发信号使其在测量、通信、工业自动化等领域拥有更大的技术优势。PXI Express相 对PXI最显著的改进和优势就在于它融入PCI Express的特点，采用串行传输，点到点的总 线拓扑结构。不同于PXI在所有总线设备间分享带宽，PXI Express为每一个设备提供单独 的传输通道。 AWG的原理是把所需重现的信号波形截取一个周期进行均匀采样后保存在存储器 中，然后把存储器中的数据按顺序读出经数模转换器及滤波网络后得到所需波形。AWG通常 包括的DAC(数模转换器)是核心器件，理论上希望DAC的输出输出信号通频带内输出幅值是 恒定的，而实际中DAC输出因sinc效应的存在，输出信号幅值会随着输出频率的增大而减 小，具体与DAC的采样频率及DAC的驱动能力均有关系。因此，如何从DAC输出端的补偿电路 进行合理的幅值补偿是非常有必要的。
技术实现要素：
本说明书实施例提供一种实现测控板卡DAC输出幅值补偿的方法和系统，用于解 决现有技术中的如下技术问题： DAC芯片的信号输出因sinc效应存在，输出端幅值会随着输出频率的增大而减小。 本说明书实施例采用下述技术方案： 本发明实施例的第一方面提供了一种实现测控板卡DAC输出幅值补偿的方法，包 括： 基于设置于测控板卡上的DAC芯片特性和测控板卡的输出端幅值要求，确定补偿 电路模型； 根据DAC芯片本身输出端幅值，通过所述补偿电路模型中的多级运放对设置于测 控板卡上的DAC芯片的输出端幅值进行补偿。 在一个示例中，还包括： 根据所述DAC芯片本身的输出端幅值与所述补偿电路模型的放大倍数与频率变化 的关系，确定所述补偿电路模型中的非线性元件的实际参数； 通过所述非线性元件的实际参数，确定所述设置于测控板卡上的DAC芯片的输出 4 CN 111600605 A 说 明 书 2/5 页 端幅值的补偿效果。 在一个示例中，所述通过所述非线性元件的实际参数，确定所述设置于测控板卡 上的DAC芯片的输出端幅值的补偿效果，包括： 通过所述补偿电路模型验证所述非线性元件的实际参数，确定所述设置于测控板 卡上的DAC芯片的输出端幅值的补偿效果。 在一个示例中，所述根据所述DAC芯片本身的输出端幅值与所述补偿电路模型的 放大倍数与频率变化的关系，确定所述非线性元件的实际参数之前，还包括： 将所述非线性元件的阻抗随频率变化的参数进行数据处理，得到所述补偿电路模 型的放大倍数与频率变化的关系。 在一个示例中，所述确定所述补偿电路模型中的非线性元件的实际参数，包括： 将所述DAC芯片本身的输出端幅值与所述补偿电路模型的放大倍数与频率变化的 关系，在对应频率处相乘，得到所述设置于测控板卡上的DAC芯片的输出信号的峰峰值在指 定通频带内的曲线； 通过调整所述非线性元件的参数，将所述曲线趋近于数值恒定的直线，以确定所 述非线性元件的实际参数。 在一个示例中，所述通过所述补偿电路模型中的多级运放对设置于测控板卡上的 DAC芯片的输出端幅值进行补偿，包括： 依次通过第一级运放和第二级运放对所述设置于测控板卡上的DAC芯片的输出端 幅值进行补偿，其中，所述第一级运放是全差分运放，所述第二级运放是差分转单端输出运 放。 在一个示例中，所述补偿电路模型包括LR并联补偿网络和RC并联补偿网络。 在一个示例中，所述设置于测控板卡上的DAC芯片特性和测控板卡的输出端幅值 要求包括：输出信号类型、输出管脚摆幅和输出信号峰峰值。 在一个示例中，还包括：测量DAC芯片本身输出端幅值，测量步骤包括： 测量所述DAC芯片本身输出端幅值在指定通频带内，多个频率下的最大输出值； 将测量获得的最大输出值进行数据处理，得到所述DAC芯片本身输出的sinc效应 曲线。 本发明实施例的第二方面提供了一种实现测控板卡DAC输出幅值补偿的系统，包 括： 测量模块，所述测量模块用于测量DAC芯片本身输出端幅值； 补偿电路模型，所述补偿电路模型用于根据DAC芯片本身输出端幅值，通过所述补 偿电路模型中的多级运放对设置于测控板卡上的DAC芯片的输出端幅值进行补偿； 模型参数确定模块，所述模型参数确定模块用于根据所述DAC芯片本身的输出端 幅值与所述补偿电路模型的放大倍数与频率变化的关系，确定所述补偿电路模型中的非线 性元件的实际参数；以及 验证模块，所述验证模块用于根据所述DAC芯片本身的输出端幅值与所述补偿电 路模型的放大倍数与频率变化的关系，确定所述补偿电路模型中的非线性元件的实际参 数。 本说明书实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果： 5 CN 111600605 A 说 明 书 3/5 页 通过DAC芯片本身的输出幅值进行验证，可以更好的对设置在测控板卡上的DAC芯 片的输出端幅值进行补偿，最大程度降低DAC芯片本身的sinc效应带来的影响。 附图说明 此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申 请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中： 图1为本发明实施例提供的方法流程示意图； 图2为本发明实施例提供的补偿电路模型示意图； 图3为本发明实施例提供的系统框架示意图。
