技术摘要：
本发明提供一种图像特征检测方法、系统、设备以及介质，所述的方法包括：通过一种或多种特征处理结构对图像信息进行多次特征处理，获得多种尺度的输出图像；通过一种或多种融合处理结构对多种尺度的所述输出图像进行输出或者融合处理，获得多种尺度的特征图。通过在下 全部
背景技术：
为了便于对图像进行识别和检测，需要对图像中的目标实现识别和检测，在现有 的目标检测方法对硬件的需求较高，难以满足实时检测的需求，为了降低对硬件配置的依 赖，可能造成检测精度较低的现象。例如，在一些场景条件下，当目标尺寸分布广时，如果简 化检测模型、参数利用不充分，可能会导致目标特征信息提取存在误差，如果检测模型网络 较为复杂，可能会导致模型计算速度过慢，不便于达到实时检测的目的。
技术实现要素：
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供图像特征检测方法、系统、 设备以及介质，用于解决现有技术中图像特征检测不准确、效率低的技术问题。 为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种图像特征检测方法，包括：通过 一种或多种特征处理结构对图像信息进行多次特征处理，获得多种尺度的输出图像，其中， 所述特征处理结构包括以下至少之一：下采样单元、特征提取单元、通道降维单元；通过一 种或多种融合处理结构对多种尺度的所述输出图像进行输出或者融合处理，获得多种尺度 的特征图，其中，所述融合处理结构包括至少以下之一：上采样单元、图像通道拼接单元。 可选的，通过所述下采样单元对所述图像信息进行下采样处理后，通过一个或多 个特征提取单元对下采样处理结果进行特征提取。 可选的，通过一个或多个特征提取单元对下采样处理结果进行一次或者多次特征 提取；并通过所述通道降维单元对特征提取的结果进行通道数的降维处理。 可选的，通过一个或多个特征提取单元对降维处理的结果，进行特征提取。 可选的，所述特征提取单元进行特征提取的结果的通道数量不变或者增加x倍，x 为正整数。 可选的，通过多个所述下采样单元对所述图像信息进行多次下采样处理，分别获 取多种尺度的输出图像。 可选的，通过多个所述特征提取单元对所述图像信息进行多次图像通道处理，分 别获取多种图像通道数的输出图像。 可选的，通过所述下采样单元对所述图像信息进行处理，获取尺度大小为输入尺 寸的1/n倍的输出图像，其中，n为所述下采样单元的步长且n为正整数。 可选的，所述下采样单元的结构为：尺寸为t×t，步长为2q，通道数量为f(i)，且f (i 1)＝2yf(i)，其中，t≥1且为正整数，q≥1且为正整数，i为所述下采样单元的处理次数 且为正整数，y为正整数。 可选的，所述特征提取单元的结构为：尺寸为t×t，步长为q。 5 CN 111582353 A 说 明 书 2/11 页 可选的，所述通道降维单元的结构为：尺寸为1×1，步长为q。 可选的，所述上采样单元对所述输出图像进行上采样处理的步骤包括：通过双线 性插值对上采样处理的结果进行尺度增大。 可选的，图像通道拼接单元的处理步骤包括： 将第(m 1)输出图像与第m上采样图像沿着图像通道方向进行拼接； 获取第(m 1)特征图，或者，再进行上采样获取第(m 1)上采样图像； 其中，将多种尺度的所述输出图像按照尺度由小到大分别定义为：第一输出图 像、……、第(m 1)输出图像、……；将多种尺度的所述特征图按照尺度由小到大分别定义 为：第一特征图、……、第(m 1)特征图、……；将进行上采样次数为m的图像定义为第一上采 样图像、……、第(m 1)上采样图像、……；m为正整数。 可选的，在所述上采样处理的步骤之前，还包括通道数降维处理。 可选的，将尺度最小的所述输出图像进行输出，获得第一特征图。 可选的，在对图像信息进行多次特征处理的步骤之前包括：对所述图像信息进行 保持比例地放大或者缩小。 一种图像特征检测系统，包括： 第一网络，包括一种或多种特征处理结构，通过一种或多种所述特征处理结构对 图像信息进行多次特征处理，获得多种尺度的输出图像，其中，所述特征处理结构包括以下 至少之一：下采样单元、特征提取单元、通道降维单元； 第二网络，包括一种或多种融合处理结构，通过一种或多种所述融合处理结构对 多种尺度的所述输出图像进行输出或者融合处理，获得多种尺度的特征图，其中，所述融合 处理结构包括至少以下之一：上采样单元、图像通道拼接单元。 可选的，通过所述下采样单元对所述图像信息进行下采样处理后，通过一个或多 个特征提取单元对下采样处理结果进行特征提取。 可选的，通过一个或多个特征提取单元对下采样处理结果进行一次或者多次特征 提取；并通过所述通道降维单元对特征提取的结果进行通道数的降维处理。 可选的，通过一个或多个特征提取单元对降维处理的结果，进行特征提取。 可选的，所述特征提取单元进行特征提取的结果的通道数量不变或者增加x倍，x 为正整数。 可选的，通过多个所述下采样单元对所述图像信息进行多次下采样处理，分别获 取多种尺度的输出图像。 可选的，通过多个所述特征提取单元对所述图像信息进行多次图像通道处理，分 别获取多种图像通道数的输出图像。 可选的，通过所述下采样单元对所述图像信息进行处理，获取尺度大小为输入尺 寸的1/n倍的输出图像，其中，n为所述下采样单元的步长且n为正整数。 可选的，所述下采样单元的结构为：尺寸为t×t，步长为2q，通道数量为f(i)，且f (i 1)＝2yf(i)，其中，t≥1且为正整数，q≥1且为正整数，i为所述下采样单元的处理次数 且为正整数，y为正整数。 可选的，所述特征提取单元的结构为：尺寸为t×t，步长为q。 可选的，所述通道降维单元的结构为：尺寸为1×1，步长为q。 6 CN 111582353 A 说 明 书 3/11 页 可选的，所述上采样单元对所述输出图像进行上采样处理的步骤包括：通过双线 性插值对上采样处理的结果进行尺度增大。 可选的，图像通道拼接单元的处理步骤包括： 将第(m 1)输出图像与第m上采样图像沿着图像通道方向进行拼接； 获取第(m 1)特征图，或者，再进行上采样获取第(m 1)上采样图像； 其中，将多种尺度的所述输出图像按照尺度由小到大分别定义为：第一输出图 像、……、第(m 1)输出图像、……；将多种尺度的所述特征图按照尺度由小到大分别定义 为：第一特征图、……、第(m 1)特征图、……；将进行上采样次数为m的图像定义为第一上采 样图像、……、第(m 1)上采样图像、……；m为正整数。 可选的，在所述上采样处理的步骤之前，还包括通道数降维处理。 可选的，将尺度最小的所述输出图像进行输出，获得第一特征图。 可选的，在对图像信息进行多次特征处理的步骤之前包括：对所述图像信息进行 保持比例地放大或者缩小。 一种设备，包括： 一个或多个处理器；和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当所述一个 或多个处理器执行时，使得所述设备执行一个或多个所述的方法。、 一个或多个机器可读介质，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得 设备执行一个或多个所述的方法。 如上所述，本发明提供的一种图像特征检测方法、系统、设备以及介质，具有以下 有益效果： 通过改变特征处理结构的类型和特征处理结构的数量，以获得图像特征检测的精 度以及检测速度，以适应不同应用场景、目标大小、检测速度和检测精度的业务需求；其中， 所述特征处理结构包括以下至少之一：下采样单元、特征提取单元、通道降维单元； 通过一种或多种融合处理提取多种尺度的特征图，尺度较大的特征图感受野小， 对应小目标，尺度较小的特征图感受野大，对应大目标，使得模型对尺度、比例分布广的目 标更加鲁棒。 附图说明 图1为本发明实施例一提供的一种图像特征检测方法的流程示意图。 图2为本发明实施例一提供的一种特征处理结构； 图3为本发明实施例一提供的另一种特征处理结构； 图4为本发明实施例一提供的又一种特征处理结构； 图5为本发明实施例一提供的特征处理结构的一种网络结构形式； 图6为本发明实施例一提供的特征处理结构的另一种网络结构形式； 图7为本发明实施例一提供的特征处理结构的又一种网络结构形式； 图8为本发明实施例一提供的特征处理结构的其他网络结构形式； 图9为本发明实施例一提供的融合处理结构的一种形式； 图10为本发明实施例二提供一种图像特征检测系统； 图11为本发明实施例三提供一种图像特征检测系统； 7 CN 111582353 A 说 明 书 4/11 页 图12为本发明实施例四提供一种图像特征检测系统； 图13为本发明实施例五提供一种图像特征检测系统； 图14为一实施例提供的终端设备的硬件结构示意图。 图15为另一实施例提供的终端设备的硬件结构示意图。 元件标号说明 1100 输入设备 1101 第一处理器 1102 输出设备 1103 第一存储器 1104 通信总线 1200 处理组件 1201 第二处理器 1202 第二存储器 1203 通信组件 1204 电源组件 1205 多媒体组件 1206 语音组件 1207 输入/输出接口 1208 传感器组件
