技术摘要：
本申请提供的测试用例设计方法及装置，创建第一电子系统的包含第一变量的工程变量库，支持用户设计面向第一变量的测试用例，再基于第一变量与ICD域的映射关系，将通用的面向第一变量的测试用例自动转换为面向ICD域的测试用例。本申请将面向变量的测试用例和ICD域解耦，  全部
背景技术：
电子系统开发完成后，为检验电子系统的可行性和稳定性，需要再对电  子系统进 行测试。 现阶段，在测试时，需要针对各电子系统的ICD(Interface  Contro Document，接 口控制文档)开发单独的测试用例，这就极大增加了开发、调 试的工作量。
技术实现要素：
有鉴于此，为解决上述问题，本申请提供一种测试用例设计方法及装置。 技术方案如下： 一种测试用例设计方法，所述方法包括： 创建第一电子系统的工程变量库，所述工程变量库中包含N个具有层级  结构的第 一变量； 生成所述第一变量与ICD域之间的映射关系； 采用结构化形式建立面向所述第一变量的测试用例，并结合所述映射关  系生成 面向所述ICD域的测试用例。 可选的，所述创建第一电子系统的工程变量库，包括： 接收导入的ICD接口控制文件； 解析所述ICD接口控制文件，以得到所述第一变量； 相应的，所述生成所述第一变量与ICD域之间的映射关系，包括： 获取解析所述ICD接口控制文件后所得到的ICD域； 绑定所述第一变量和所述ICD域，得到所述映射关系。 可选的，所述创建第一电子系统的工程变量库，包括： 响应于用户的变量创建操作，得到所述第一变量； 相应的，所述生成所述第一变量与ICD域之间的映射关系，包括： 响应于用户的ICD域创建操作，得到所述ICD域； 绑定所述第一变量和所述ICD域，得到所述映射关系。 可选的，在所述绑定所述第一变量和所述ICD域之前，所述方法还包括： 对所述第一变量的单位属性和所述ICD域的单位属性进行一致性校验， 并同步。 可选的，所述采用结构化形式建立面向所述第一变量的测试用例，包括： 从所述工程变量库中筛选与用户所输入的关键词相匹配的目标变量； 为所述目标变量进行赋值，得到面向所述目标变量的测试用例。 可选的，所述采用结构化形式建立面向所述第一变量的测试用例，包括： 4 CN 111597081 A 说　明　书 2/7 页 导入第二电子系统的面向第二变量的测试用例，所述第二电子系统与所  述第一 电子系统的类型相同； 复用所述第二变量中与所述第一变量名称相同的同名变量的测试用例，  作为面 向所述同名变量的测试用例。 可选的，所述采用结构化形式建立面向所述第一变量的测试用例，还包 括： 从所述工程变量库中筛选所述第一变量中与所述第二变量名称不相同的  非同名 变量； 为所述非同名变量进行赋值，得到面向所述非同名变量的测试用例。 可选的，在所述复用所述第二变量中与所述第一变量名称相同的同名变  量的测 试用例之前，所述方法还包括： 对所述第一变量的单位属性和所述第二变量中与所述第一变量名称相同 的同名 变量的单位属性进行一致性校验，并同步。 可选的，所述方法还包括： 对所述第二变量中除所述同名变量之外的其他变量进行标识。 一种测试用例设计装置，所装置包括： 创建模块，用于创建第一电子系统的工程变量库，所述工程变量库中包  含N个具 有层级结构的第一变量； 关系生成模块，用于生成所述第一变量与ICD域之间的映射关系； 用例生成模块，用于采用结构化形式建立面向所述第一变量的测试用例， 并结合 所述映射关系生成面向所述ICD域的测试用例。 以上本申请提供的测试用例设计方法及装置，创建第一电子系统的包含  第一变 量的工程变量库，支持用户设计面向第一变量的测试用例，再基于第  一变量与ICD域的映 射关系，将通用的面向第一变量的测试用例自动转换为面  向ICD域的测试用例。本申请将 面向变量的测试用例和ICD域解耦，实现电子  系统测试用例的通用化和标准化，这就极大 减少了开发、调试的工作量。 附图说明 为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实  施例或 现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面  描述中的附图仅仅是 本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不  付出创造性劳动的前提下，还可以 根据提供的附图获得其他的附图。 图1为本申请实施例提供的测试用例设计方法的方法流程图； 图2为本申请实施例提供的测试用例设计装置的结构示意图。