技术摘要：
本发明公开了一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，具体涉及存储芯片领域，包括主体外壳，所述主体外壳的内部固定安装有内胆，所述内胆的内部一侧设置有内架，所述内胆的内部固定安装有电路板,所述内胆的内部位于内架的上方开设有卡槽。本发明通过设置内架、半导体制  全部
背景技术：
静态随机存取存储器是随机存取存储器的一种，所谓的“静态”，是指这种存储器 只要保持通电，里面储存的数据就可以恒常保持。 现有技术存在以下不足：现有的对存储芯片进行测试时，测试存储芯片处于暴露 状态，容易受到外界环境影响，并且在测试的过程中为常温状态，不能了解存储芯片工作环 境的极限温度，从而不能精确的测试芯片的工作性能。
技术实现要素：
为此，本发明实施例提供一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，通过内架、半 导体制冷片、温度表和卡槽，在对芯片进行测试时，将测试的芯片从一侧插入插槽内，然后 将内架推回到内胆内部，当内架完全进入内胆时，启动底槽内的电磁铁，带动卡柱插入底槽 进行固定，避免在测试的过程中受到外界环境的影响，当需要制冷时就启动上端的半导体 制冷片进行降温，并且通过温度表监控内架的温度，可以测试在不同温度下芯片的工作性 能，增加了测试数据的全面性，以解决现有技术中由于容易受到外界环境干扰影响测试数 据的全面性导致的问题。 为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：一种随机静态存储芯片 SRAM功能测试装置，包括主体外壳，所述主体外壳的内部固定安装有内胆，所述内胆的内部 一侧设置有内架，所述内胆的内部固定安装有电路板。 所述内胆的内部位于内架的上方开设有卡槽，所述内架的一侧开设有滑槽，所述 内胆的内部位于内架的一侧固定安装有滑杆，所述滑杆的外表面一侧设置第一磁块，所述 滑杆的外表面位于第一磁块的一侧固定安装有第二磁块，所述第一磁块的一端与滑槽的内 壁固定连接，所述第一磁块与滑杆滑动连接，所述第一磁块与第二磁块的规格大小相同，所 述卡槽的内部固定安装有弹簧，所述卡槽的内部位于弹簧的底端设置有卡柱，所述弹簧的 一端与卡柱固定连接，所述卡柱通过卡槽与内胆滑动连接，所述内架的内部位于卡槽的下 方开设有底槽，所述底槽的内壁底端固定安装有电磁铁，所述卡柱为不锈钢材质，所述内架 的内部开设有插槽，所述插槽的上下两端固定安装有半导体制冷片，所述内架的上下外表 面开设有若干个通孔。 所述电路板外表面固定安装有电源，所述电路板的外表面位于电源的一侧固定安 装有散热器。 所述主体外壳的内部四角处插入有固定销，所述固定销为中空结构，所述内胆的 外表面位于内架的一侧固定安装有温度表，所述内胆的外表面位于温度表的一侧固定安装 有电压表。 4 CN 111613263 A 说　明　书 2/5 页 进一步地，所述电源的顶端固定安装有气缸，所述电路板的一侧设置有接头。 进一步地，所述接头通过导线与电源电性连接，所述内架的后端开设有接口，所述 接头的一端与内架的后端接口相匹配。 进一步地，所述接头的顶端固定安装有连接板，所述气缸的活塞杆一端与连接板 固定连接。 进一步地，所述电路板的一侧固定安装有两根导杆，所述导杆贯穿于接头的两侧， 所述接头与导杆滑动连接。 进一步地，所述内胆的内部四角处开设有连接槽，所述内胆的内部设置有螺杆。 进一步地，所述内胆与螺杆螺纹连接，所述内胆的后端设置有转盘，所述内胆与转 盘活动连接。 进一步地，所述螺杆的一端与转盘固定连接，所述螺杆的一端固定安装有挡板。 进一步地，所述内胆的内壁与挡板对应的位置固定安装有定位板，所述挡板与定 位板相匹配。 进一步地，所述连接槽的内部固定安装有连接杆，所述连接杆的外表面顶端部分 设置有螺纹，所述连接杆与固定销相匹配，所述连接杆与固定销通过螺纹固定连接。 本发明实施例具有如下优点： 1、通过设置内架、半导体制冷片、温度表和卡槽，在对芯片进行测试时，将测试的 芯片从一侧插入插槽内，然后将内架推回到内胆内部，当内架完全进入内胆时，启动底槽内 的电磁铁，带动卡柱插入底槽进行固定，避免在测试的过程中受到外界环境的影响，当需要 制冷时就启动上端的半导体制冷片进行降温，并且通过温度表监控内架的温度，可以测试 在不同温度下芯片的工作性能，增加了测试数据的全面性； 2、通过设置电源、气缸、接头和导杆，在进行测试时，需要启动电源上的气缸，通过 气缸推动连接板，从而带动接头插入内架的一端，使内架与电源连接进行测试，当测试完毕 后，在通过气缸将接头沿着导杆拉回，使电源与内架断开停止内部的芯片供电，如此循环， 避免通过人工反复断开电源进行测试，节约了大量的人力，同时增加了测试的效率。 3、通过设置内胆、连接杆、固定销和转盘，当装置的内部出现故障，需要进行维修 时，先转动主体外壳顶端四角处的固定销，使固定销与连接槽内的连接杆脱离，解除内胆与 主体外壳的限位，然后转动主体外壳后端的转盘，通过转盘带动内部的螺杆转动，直到内胆 完全推出，然后对内胆内部的器件进行检测维修，方便对装置进行维修。 附图说明 为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方 式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅 仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据 提供的附图引伸获得其它的实施附图。 本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供 熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的 实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功 效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。 5 CN 111613263 A 说　明　书 3/5 页 图1为本发明提供的整体结构示意图。 图2为本发明提供的内架的安装结构侧视图。 图3为本发明提供的图2的A处放大图。 图4为本发明提供的内架的内部结构图。 图5为本发明提供的内胆的俯视图。 图6为本发明提供的接头的侧视图。 图7为本发明提供的内胆的安装结构图。 图8为本发明提供的内胆与主体外壳的连接结构图。 图中：1主体外壳、11固定销、2内胆、21温度表、22电压表、23连接槽、24螺杆、25转 盘、26挡板、27定位板、28连接杆、3内架、31卡槽、32滑槽、33滑杆、34第一磁块、35第二磁块、 36弹簧、37卡柱、38底槽、39电磁铁、311插槽、312半导体制冷片、313通孔、4电路板、41电源、 42散热器、43气缸、44接头、45连接板、46导杆。