技术摘要：
本发明公开了一种浮动探针机构，包括探针组件，探针组件包括电路板及若干安装于电路板的探针，浮动探针机构还包括底座及浮动结构，浮动结构包括探针板组件、防松螺丝以及弹性组件，探针板组件通过防松螺丝活动安装于底座，弹性组件两端分别与底座及探针板组件抵触，电  全部
背景技术：
随着现代社会的快速发展，各式各样的电子产品进入到人们的生活中，人们对电 子产品的质量要求也越来越高，从而在电子产品的生产过程中，每道工序都需要对半成品 产品进行检测，目前通常采用测试设备与产品电连接进行测试，测试设备的连接件为金属 探针。 每一次测试对接时，金属探针都会受到冲击，导致金属探针寿命缩短，经常需要更 换。
技术实现要素：
为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种对接时冲击小、使用 寿命长的浮动探针机构。 本发明的目的之一采用以下技术方案实现： 一种浮动探针机构，包括探针组件，所述探针组件包括电路板及若干安装于所述 电路板的探针，所述浮动探针机构还包括底座及浮动结构，所述浮动结构包括探针板组件、 防松螺丝以及弹性组件，所述探针板组件通过所述防松螺丝活动安装于所述底座，所述弹 性组件两端分别与所述底座及所述探针板组件抵触，所述电路板位于所述底座及所述探针 板组件之间，所述探针收容于所述探针板组件。 进一步地，所述探针板组件设有导向孔，所述底座设有固定孔，所述防松螺丝伸入 所述导向孔并与所述固定孔固定。 进一步地，所述探针板组件设有第二收容孔，所述底座设有第一收容孔，所述弹性 组件收容于所述第一收容孔及所述第二收容孔之间。 进一步地，所述弹性组件包括弹性件及导向柱，所述弹性件套设于所述导向柱。 进一步地，所述弹性件为弹簧。 进一步地，所述探针板组件包括上探针板、中探针板以及下探针板，所述上探针板 设有探针槽，所述中探针板设有第一探针孔，所述下探针板设有第二探针孔，所述探针槽、 所述第一探针孔以及所述第二探针孔连通。 进一步地，所述第一探针孔以及所述第二探针孔位于同一直线上。 进一步地，每一所述探针安装于所述第二探针孔、所述第一探针孔以及所述探针 槽，并能够在所述第二探针孔、所述第一探针孔以及所述探针槽中活动。 进一步地，所述下探针板设有凹槽，所述电路板位于所述凹槽中并与所述下探针 板固定。 进一步地，所述底座设有主体及安装部，所述安装部从所述主体延伸而出，所述安 装部设有安装孔，所述底座通过所述安装孔与治具固定连接。 3 CN 111721981 A 说　明　书 2/3 页 相比现有技术，本发明浮动探针机构使用时，浮动探针机构固定于治具上，治具带 动浮动探针机构向上移动，探针板组件先与待测试产品接触并被待测试产品抵压靠近底 座，此时探针从探针板组件中伸出，直至待测试产品与探针连接，在此过程中弹性件缓冲待 测产品的冲击力。通过上述设计，探针检测时受到的冲击力小，使用寿命长。 附图说明 图1为本发明浮动探针机构的立体图； 图2为图1的浮动探针机构的分解图； 图3为图2的浮动探针机构的底座的立体图； 图4为图2的浮动探针机构的下探针板的立体图； 图5为图1的浮动探针机构的立体剖视图。 图6为图1的浮动探针机构的另一立体剖视图。 图中：10、底座；11、主体；110、定位孔；111、第一收容孔；112、固定孔；12、安装部； 120、安装孔；20、探针组件；21、电路板；22、探针；30、浮动结构；31、探针板组件；310、上探针 板；3101、探针槽；311、中探针板；3110、第一探针孔；312、下探针板；3120、导向孔；3121、第 二收容孔；3122、第二探针孔；3123、凹槽；32、防松螺丝；33、弹性组件；330、弹性件；331、导 向柱；34、定位销。